ایکس رے ڈفریکشن سپیکٹرم بنیادی طور پر مواد کی کرسٹل لائن حالت اور مائکرو اسٹرکچر کا تجزیہ کرتا ہے، کیونکہ اس کی طول موج ایکسرےکرسٹل کے جالی مستقل سے ملتا جلتا ہے، کرسٹل کے مواد پر شعاع ہوتا ہے، اور تجزیہ سے پیدا ہونے والا پھیلاؤ پیٹرن جوہری ساخت اور کرسٹل کی قسم کا تعین کر سکتا ہے۔ کے لیے دو ایکس رے پھیلاؤ کی پیمائشیں ہیں۔کرسٹل تجزیہ.
1. ایکس رے پھیلاؤ سپیکٹرم طریقہ،ایکس رے ڈفریکٹومیٹربنیادی ڈھانچہ کے تین حصے ہیں: ایکس رے سورس، گونیومیٹر، ڈیٹیکٹر۔
عام طور پر، ایکس رے کا ذریعہ تانبے کے ہدف کو روکنے کے لیے الیکٹران بیم کا استعمال کرکے تیار کیا جاتا ہے۔ کا-خصوصیات ایکس رے ایک واحد فریکوئنسی سلیکٹر کے ذریعہ ماپا جاتا ہے۔ کیو-KaX آپٹیکل طول موج 1.542A ہے، جس کے نتیجے میں ایکایکس رے کا پھیلاؤسپیکٹرم سنگل کرسٹل ڈفریکشن پیٹرن لیں جیسا کہ دائیں طرف کی شکل میں دکھایا گیا ہے۔ پاؤڈر کرسٹل ڈفریکشن اسٹینڈرڈ چارٹ کے مقابلے میں پروڈکٹ ہوائی جہاز کی سمت (400) ڈفریکشن کرسٹ اینگل سے حاصل کی جاتی ہے۔ کرسٹ کی شدت جتنی مضبوط ہوگی اور نصف اونچائی کی چوڑائی جتنی کم ہوگی، پروڈکٹ کی خصوصیات اتنی ہی بہتر ہوں گی۔
2. ایکس رے واپس عکاسی لاؤ طریقہ
ایکس رے ریفلیکشن لاؤ کا طریقہ استعمال کرکے حاصل کیا جانے والا سپیکٹرم ہے۔ایکس رے شعاع ریزی کرسٹل کے. ایک فکسڈ سلیکون سنگل ویفر پر ایکس رے کی شعاعیں بریگ کے قانون کے مطابق مخصوص زاویوں پر پھیلاؤ کا رجحان پیدا کرے گی، جیسا کہ بائیں طرف کی شکل میں دکھایا گیا ہے، اور (100) سنگل کرسٹل ریفلیکشن لاؤ کا ڈفریکشن پیٹرن تصویر میں دکھایا گیا ہے۔ صحیح یہ طریقہ کسی ایک کرسٹل کی کرسٹل سمت کو الگ کرنے کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔
