اگرچہ مادے کی ساخت کا تجزیہ کرنے کے لیے نیوٹران کا پھیلاؤ، الیکٹران کا پھیلاؤ، انفراریڈ سپیکٹروسکوپی، موس باؤر سپیکٹرم اور دیگر طریقوں کا استعمال کیا جا سکتا ہے، لیکن ایکس رے کا پھیلاؤ سب سے مؤثر اور سب سے زیادہ استعمال ہونے والا ذریعہ ہے، اورایکس رے کا پھیلاؤمادے کے مائیکرو اسٹرکچر کا مطالعہ کرنے کے لیے انسانوں کے ذریعہ استعمال کیا جانے والا پہلا طریقہ ہے۔
خصوصیات:
(1) طول موج کی حد 0.001~10nm ہے، برقی مقناطیسی سپیکٹرم پر الٹراوائلٹ اور گاما شعاعوں کے درمیان، اور ایکسرے کی طول موج 0.05~0.25nm ہے۔
(2) ایکس رے کی رسائی بہت مضبوط ہے، 2~3 سینٹی میٹر موٹی لکڑی، 1.5 سینٹی میٹر ایلومینیم پلیٹ میں گھس سکتی ہے، لیکن 1.5 سینٹی میٹر موٹی لیڈ پلیٹ مکمل طور پر بلاک کر سکتی ہے۔ایکس رے.
(3) ایکس رے کرسٹل میں پھیلاؤ کے نمونے پیدا کر سکتے ہیں، اور تفاوت کے نمونوں کا تجزیہ کرسٹل کی ساخت کا تعین کر سکتا ہے، جو مادے کی ساخت کا مطالعہ کرنے کا بنیادی ذریعہ بن گیا ہے۔
دیایکس رے ٹیوب خالص یک رنگی روشنی نہیں ہے، جس میں شعاعوں کی طول موج کی ایک قسم ہوتی ہے، سب سے اہم K سیریز کی شعاعیں ہیں۔ K رے سے مراد کیتھوڈ الیکٹران انوڈ سے ٹکراتا ہے، جس کی وجہ سے انوڈ الیکٹران K اتیجیت پیدا کرتا ہے، اور K پرت کے الیکٹرانوں کو مارنے کے بعد، L یا M پرت کے الیکٹران K پرت کے الیکٹرانوں کو بھرتے ہیں اور ایکس رے پیدا کرتے ہیں۔ K- سیریز کی شعاعوں کو قدرے مختلف طول موج کے ساتھ دو قسم کی شعاعوں میں تقسیم کیا جا سکتا ہے: Kα (L-پرت الیکٹران فلنگ) اور Kβ (M-پرت الیکٹران فلنگ)۔ دیایکس رے ڈفریکٹومیٹریک رنگی ایکس رے کے استعمال کی ضرورت ہے۔ لہذا، مؤخر الذکر کے دوران ہٹانے کی ضرورت ہےایکس آر ڈیٹیسٹنگ، اور روایتی طریقہ یہ ہے کہ آپٹیکل پاتھ میں فلٹر (جیسے نی) شامل کریں۔ تانبے کے اہداف اب عام طور پر گریفائٹ کرسٹل کے ساتھ استعمال ہوتے ہیں۔مونوکرومیٹرKβ شعاعوں کو ہٹانے کے لیے نظری راستے میں شامل کیا گیا۔ مونوکرومیٹر تفاوت کے پس منظر کو ہٹا سکتا ہے اور Kβ شعاعوں کی مداخلت کو بھی ہٹا سکتا ہے۔ کیو کی خصوصیت والی سپیکٹرل لائنیں ہیں: Kα1(1.54056 A)، Kα2 (1.54439 A)، Kβ1 (1.39222 A)۔ تانبے کے اہداف کے لیے، Kα طول موج Kα1 اور kα2 کی وزنی اوسط ہے، جو کہ 1.54184 A (λ بریگ کی مساوات اور شیرلر کے فارمولے میں) ہے۔