ٹی ڈی ایم-20 ہائی پاورایکس رے ڈفریکٹومیٹربینچ ٹاپ ایکس آر ڈی)بنیادی طور پر پاؤڈر، ٹھوس اور اسی طرح کے پیسٹ مواد کے مرحلے کے تجزیہ کے لیے استعمال کیا جاتا ہے۔ ایکس رے کے پھیلاؤ کا اصول کوالیٹیٹو یا مقداری تجزیہ، کرسٹل ڈھانچے کے تجزیہ، اور دیگر پولی کرسٹل لائن مواد جیسے پاؤڈر کے نمونے اور دھات کے نمونوں کے لیے استعمال کیا جا سکتا ہے۔بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی صنعت، زراعت، قومی دفاع، دواسازی، معدنیات، خوراک کی حفاظت، پٹرولیم، تعلیم، اور سائنسی تحقیق جیسی صنعتوں میں وسیع پیمانے پر استعمال ہوتا ہے۔
1، ٹی ڈی ایم-20 بینچ ٹاپ کی بنیادی خصوصیاتایکس رے ڈفریکٹومیٹربینچ ٹاپ ایکس آر ڈی)：
نئے ہائی پرفارمنس اری ڈیٹیکٹر کی لوڈنگ نے چھوٹے سائز اور ہلکے وزن کے ساتھ ڈیوائس کی مجموعی کارکردگی کو بہت بہتر کیا ہے۔ پوری مشین ڈیسک ٹاپ سائز (عام طور پر ≤ 1m³) میں ضم ہے، جگہ کی بچت اور چھوٹی لیبارٹریوں یا تدریسی ماحول کے لیے موزوں؛ ہائی فریکوئنسی اور ہائی وولٹیج پاور سپلائی کی ورکنگ پاور 1600W تک پہنچ سکتی ہے۔ فوری تجزیہ، نمونوں کو تیزی سے جانچنے اور جانچنے کے قابل؛ اعلی کارکردگی کا پتہ لگانے والے (جیسے دو جہتی ڈٹیکٹر) کا استعمال کرتے ہوئے اور آپٹیکل راستے کو بہتر بناتے ہوئے، نمونے کی اسکیننگ چند منٹوں میں مکمل کی جا سکتی ہے۔ سادہ سرکٹ کنٹرول، ڈیبگ اور انسٹال کرنے میں آسان؛ زاویہ کی تکرار 0.0001 تک پہنچ سکتی ہے۔ کم بجلی کی کھپت اور حفاظت، کم طاقت والے ایکس رے ٹیوبوں (جیسے ≤ 50W) کا استعمال کرتے ہوئے، ایک سے زیادہ تابکاری کے تحفظ سے لیس، خصوصی شیلڈنگ کمروں کی ضرورت نہیں؛ صارف دوست، آٹومیشن سوفٹ ویئر سے لیس، ایک کلک آپریشن کی حمایت، ریئل ٹائم ڈیٹا ویژولائزیشن، اور معیاری ڈیٹا بیس (جیسے آئی سی ڈی ڈی PDF) موازنہ۔
2. ٹی ڈی ایم-20 بینچ ٹاپ کے عام اطلاق کے منظرنامے۔ایکس رے ڈفریکٹومیٹربینچ ٹاپ ایکس آر ڈی):
مواد کی سائنسایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی): کرسٹل کی ساخت اور فیز کمپوزیشن (جیسے دھاتیں، سیرامکس، پولیمر) کی تیزی سے شناخت۔
مواد کی سائنسایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی): خام مال یا تیار مصنوعات (جیسے دواسازی اور بیٹری کے مواد) کی کرسٹل پاکیزگی کی صنعتی سائٹ کی جانچ۔
مواد کی سائنسایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی): انڈر گریجویٹ تجرباتی تعلیم، بصری طور پر بریگ ڈفریکشن اصول کو ظاہر کرتی ہے۔
مواد کی سائنسایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی): ثقافتی آثار کی معدنی ساخت کا تجزیہ یا فیلڈ کے نمونوں کی ابتدائی اسکریننگ۔
3. ٹی ڈی ایم-20 بینچ ٹاپ کے تکنیکی پیرامیٹرزایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی):
پروجیکٹ: پیرامیٹر کی حد
ایکس رے کا ذریعہ: کیو ہدف (λ=1.54 Å)، مو ہدف اختیاری
وولٹیج/کرنٹ:10-50 kV/0.1-2 ایم اے
زاویہ کی پیمائش کرنے والے آلے کی حد: 0-90 ° 2θ (کچھ ماڈلز کو بڑھایا جا سکتا ہے)
زاویہ کی قرارداد: ≤ 0.01 °
ڈیٹیکٹر کی قسم: ایک جہتی لکیری یا دو جہتی سطح کا پتہ لگانے والا
نمونہ سائز: پاؤڈر (ملیگرام)، فلم یا بلاک
4. ٹی ڈی ایم-20 بینچ ٹاپ کے فوائد اور حدودایکس رے ڈفریکٹومیٹر (بینچ ٹاپ ایکس آر ڈی):
فوائد: کم قیمت (بڑے ایکس آر ڈی کا تقریباً 1/3-1/2)، آسان دیکھ بھال۔
غیر تباہ کن تجزیہ اور سادہ نمونے کی تیاری (جیسے براہ راست پاؤڈر لگانا) کی حمایت کریں۔
حدود:
ریزولیوشن اور حساسیت اعلیٰ درجے کے آلات سے قدرے کم ہے، اور ہو سکتا ہے کہ یہ انتہائی عمدہ ساختی تجزیہ کے لیے موزوں نہ ہوں۔
انتہائی حالت کی جانچ (جیسے کہ ہائی ٹمپریچر/ ہائی پریشر ان سیٹو تجربات) عام طور پر ممکن نہیں ہوتا ہے۔
