چھوٹے زاویہ کا ایکس رے بکھرنا اصل شہتیر کے قریب چھوٹے زاویہ کی حد میں ایکس رے میں الیکٹرانوں کا پھیلا ہوا بکھرنا ہے۔ نینو میٹر پیمانے پر غیر یکساں الیکٹران کثافت کے ساتھ تمام مواد میں چھوٹے زاویہ بکھرنے کا عمل ہوتا ہے۔ 

1. پارٹیکل سائز ڈسٹری بیوشن میں SAXS کا اطلاق SAXS بڑے پیمانے پر نینو پاؤڈرز کے پارٹیکل سائز اور پارٹیکل سائز ڈسٹری بیوشن کا تعین کرنے کے لیے استعمال ہوتا ہے۔ ذرہ سائز کے تجزیہ کے نتائج نہ تو اناج کی عکاسی کرتے ہیں اور نہ ہی مجموعی، بلکہ بنیادی ذرات کی جسامت کو ظاہر کرتے ہیں۔ نینو میٹر زرکونیا کے ذرہ سائز کی تقسیم کی پیمائش کی گئی۔ایکسرےچھوٹا زاویہ بکھرنے کا طریقہ۔ ذرہ سائز کی تقسیم کا ہسٹوگرام جانچ اور ڈیٹا پروسیسنگ کے ذریعے حاصل کیا گیا تھا۔

2. واقفیت کی خصوصیتSAXSبدیہی طور پر واقفیت کے ساتھ مواد کی خصوصیت کر سکتے ہیں۔ انجیر. 4 اور 5 ترکیب شدہ اورینٹڈ کاربن نانوٹوبس کے SAXS اور اسکیمیٹک ڈایاگرام کی نمائندگی کرتے ہیں۔ جیسا کہ SAXS ڈایاگرام سے دیکھا جا سکتا ہے، بائیں اور دائیں ہم آہنگی کے ساتھ دو روشن دھبے کاربن نانوٹوبس کی اونچی سمت کی نشاندہی کرتے ہیں، اور چوٹی کی پوزیشن کاربن نانوٹوبس کے سائز کے ڈھانچے کے مساوی ہے، جب کہ تصادفی طور پر منتشر کاربن نانوٹوبس میں ایسا نہیں ہوتا ہے۔ اس طرح کے پیٹرن.

اب تک، SAXS ٹیکنالوجی کو مواد کے مائیکرو اسٹرکچر کی خصوصیت کے کچھ پہلوؤں پر کامیابی کے ساتھ لاگو کیا گیا ہے، اور یہ SAXS کے نظریاتی طریقوں اور اطلاق کا مزید مطالعہ کرنے کے لیے کچھ نظریاتی اور عملی اہمیت کی حامل ہے۔