1.ایکس آر ڈی پیٹرن میں امورفوس، کواسکرسٹلز اور کرسٹل کی ساخت کو سختی سے کیسے الگ کیا جائے؟
جواب:تینوں کے درمیان کوئی سختی سے بیان کردہ تقسیم نہیں ہے۔ پرایکس آر ڈیdiffractometer کی طرف سے حاصل پیٹرن، پیٹرن کئی یا زیادہ تنگ کی طرف سے خصوصیات ہے"spikes"جو عام طور پر ایک دوسرے سے آزاد ہوتے ہیں۔ اگر یہ"چوٹیوں"نمایاں طور پر وسیع ہیں، یہ تعین کیا جا سکتا ہے کہ نمونے میں کرسٹل کے ذرہ کا سائز 300nm سے کم ہو گا، جسے کہا جا سکتا ہے۔"مائکرو کرسٹل".
بے ساختہ پھیلاؤ پیٹرن کی خصوصیت یہ ہے کہ بکھرے ہوئے کی شدت میں صرف ہلکی تبدیلیایکس رےپوری اسکیننگ اینگل رینج میں دیکھا جاتا ہے، جس میں ایک سے کئی زیادہ سے زیادہ اقدار ہو سکتی ہیں۔ شروع میں، کیونکہ شہتیر کی شدت براہ راست بیم کے قریب ہوتی ہے، زاویہ کے بڑھنے کے ساتھ شدت میں تیزی سے کمی آتی ہے، اور اعلی زاویہ کی شدت آہستہ آہستہ آلہ کی پس منظر کی قدر کی طرف مائل ہوتی ہے۔
دی"بے ترتیب"ان دو اقسام کے درمیان منتقلی ہے"quasicrystalline"حالت.
2.ایکس رے ڈفریکشن کرتے وقت، اگر آپ مختلف اہداف استعمال کرتے ہیں، جیسے کاپر ٹارگٹ یا کروڑ ہدف، تو کیا ان دونوں کا سپیکٹرا ایک جیسا ہوگا؟
جواب:مختلف اہداف میں مختلف خصوصیت کی طول موج ہوتی ہے۔ تفاوت کا زاویہ تجربے میں استعمال ہونے والی طول موج پر منحصر ہے۔ بریگ مساوات کے مطابق، فاصلہ d کے ساتھ کرسٹل چہروں کے ایک مخصوص گروپ کے تفاوت کے زاویے مختلف ہوں گے، اور کرسٹل چہروں کے ہر گروپ کے اسپیسنگ ویلیوز کے ساتھ تفاوت کے زاویے باقاعدہ تبدیلیاں ظاہر کریں گے۔
لہذا، کی طرف سے حاصل بازی پیٹرن پر بازی چوٹی کی پوزیشنایکس رے ٹیوبیںمختلف اہداف کے ساتھ ایک جیسا نہیں ہوتا ہے، اور تفاوت کی چوٹی کی پوزیشن میں تبدیلی باقاعدگی سے ہوتی ہے۔ ایک کرسٹل کی اپنی ڈی اقدار کا ایک سیٹ ہوتا ہے جو اس کی ساخت میں موروثی ہوتی ہے اور اسے کرسٹل مادہ کے خصوصیت کے پیرامیٹر کے طور پر استعمال کیا جا سکتا ہے۔