- ہوم
- >
خبریں
ایکس رے جذب کرنے والا ٹھیک ڈھانچہ سپیکٹرومیٹر مواد کے مقامی جوہری یا الیکٹرانک ڈھانچے کا مطالعہ کرنے کے لیے ایک طاقتور ٹول ہے، جو کیٹالیسس، توانائی اور نینو ٹیکنالوجی جیسے مشہور شعبوں میں وسیع پیمانے پر استعمال ہوتا ہے۔ XAFS کے بنیادی فوائد: سب سے زیادہ برائٹ فلوکس مصنوعات: 1000000 فوٹون/سیکنڈ/ای وی سے زیادہ فوٹان کا بہاؤ، دیگر مصنوعات سے کئی گنا زیادہ سپیکٹرل کارکردگی کے ساتھ؛ سنکروٹرون تابکاری کے برابر ڈیٹا کا معیار حاصل کریں۔ بہترین استحکام: روشنی کے منبع کی یک رنگی روشنی کی شدت کا استحکام 0.1% سے بہتر ہے، اور بار بار جمع کرنے کے دوران توانائی کا بہاؤ 50 meV سے کم ہے۔ 1% پتہ لگانے کی حد: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1٪۔
ایکس رے جذب سپیکٹروسکوپی ایک سپیکٹرل تکنیک ہے جس میں سنکروٹرون ریڈی ایشن ایکس رے کے واقعے سے پہلے اور بعد میں سگنل کی تبدیلیوں کا استعمال کرتے ہوئے مواد کی عنصری ساخت اور الیکٹرانک حالتوں کا تجزیہ کیا جاتا ہے۔
XAFS، مواد کے مقامی ڈھانچے کے تجزیہ کے لیے ایک اعلی درجے کی خصوصیت کی تکنیک کے طور پر، ایکس رے کرسٹل کے پھیلاؤ کے مقابلے میں مختصر فاصلے کے ڈھانچے کی حد میں زیادہ درست ایٹم ڈھانچہ کوآرڈینیشن معلومات فراہم کر سکتا ہے۔
ایکس رے ابسورپشن فائن سٹرکچر (XAFS) سنکروٹرون ریڈی ایشن لائٹ سورس پر مبنی مواد کے مقامی ایٹم یا الیکٹرانک ڈھانچے کا مطالعہ کرنے کا ایک طاقتور ٹول ہے۔